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• 영역 주사 검사, 領域走査檢査, Boundary Scan Test, BST

  PCB에 대한 물리적 접촉이 어렵고, ASIC, VLSI, MCM(Multi-Chip Module) 등이 사용됨에 따라 검사 패턴 제작이 어려워졌다. 이에 JTAG(Joint Test Action Group)에서 만든 JTAG 아키텍처를 IEEE 표준 기구가 IEEE 1149.1로 표준화하였다. 영역 주사 검사(BST)는 IEEE 1149.1을 바탕으로 한 칩 레벨, PCB 레벨,...